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    Estudio de propiedades de recombinación electrónica en superconductores de alta temperatura crítica mediante técnicas de microscopía electrónica de barrido y microscopía túnel

    Estudio de propiedades de recombinación electrónica en superconductores de alta temperatura crítica mediante técnicas de microscopía electrónica de barrido y microscopía tú... by Díaz-Guerra Viejo, Carlos

    Published 1999
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