Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio comportamiento en la exposición a la atmósfera /

Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio comportamiento en la exposición a la atmósfera /

Bibliographic Details
Main Author: Bartolomé García, María Jesús
Corporate Author: e-libro, Corp
Format: Libros Digitales
Language:Spanish
Published: Madrid : Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones, 2008.
Subjects:
Microscopía electrónica.
Electron microscopy.
Microscopia electronica
Libros electrónicos.
Online Access:https://elibro.net/ereader/elibrounam/86894
Description
Item Description:Tesis inédita de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Químicas, Departamento de Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica, leída el 05-06-2008.
Physical Description:193 p.

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