Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio comportamiento en la exposición a la atmósfera /

Bibliographic Details
Main Author: Bartolomé García, María Jesús
Corporate Author: e-libro, Corp
Format: Libros Digitales
Language:Spanish
Published: Madrid : Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones, 2008.
Subjects:
Online Access:https://elibro.net/ereader/elibrounam/86894

MARC

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100 1 |a Bartolomé García, María Jesús. 
245 1 0 |a Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio  |h [recurso electronico] :  |b comportamiento en la exposición a la atmósfera /  |c María Jesús Bartolomé García ; directores, José Antonio González Fernández, Víctor López Serrano. 
260 |a Madrid :  |b Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones,  |c 2008. 
300 |a 193 p. 
500 |a Tesis inédita de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Químicas, Departamento de Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica, leída el 05-06-2008. 
533 |a Recurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro. 
650 0 |a Microscopía electrónica. 
650 0 |a Electron microscopy. 
653 |a Microscopia electronica 
655 4 |a Libros electrónicos. 
700 1 |a González Fernández, José Antonio,  |e dir. 
700 1 |a López Serrano, Víctor,  |e dir. 
710 2 |a e-libro, Corp. 
856 4 0 |u https://elibro.net/ereader/elibrounam/86894