Estudio de propiedades de recombinación electrónica en superconductores de alta temperatura crítica mediante técnicas de microscopía electrónica de barrido y microscopía túnel
Main Author: | Díaz-Guerra Viejo, Carlos |
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Corporate Author: | e-libro, Corp |
Format: | Libros Digitales |
Language: | Spanish |
Published: |
Madrid :
Universidad Complutense de Madrid,
1999.
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Subjects: | |
Online Access: | https://elibro.net/ereader/elibrounam/93614 |
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