Análisis de fallas de circuito abierto de transistor en convertidores CC-CC con puentes duales activos trifásicos para aplicaciones en microrredes

Fil: Ochoa Sosa, Jonathan Emmanuel. Universidad Nacional de Río Cuarto. Grupo de Electrónica Aplicada; Argentina.

Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak: Ochoa Sosa, Jonathan Emmanuel, Nuñez, Rubén Orlando, Oggier, Germán Gustavo, García, Guillermo Oscar
Formatua: info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Hizkuntza:Spanish
Argitaratua: Programa Iberoamericano de Ciencia y Tecnología para el Desarrollo (CYTED). Microrredes Eléctricas Hibridas con Alta Penetración de Energías Renovables (MEIHAPER) 2018
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:https://hdl.handle.net/20.500.12219/4139