Estudio de la naturaleza y distribución de defectos en obleas de GaAs mediante técnicas de inyección de haces /

Los estudios realizados sobre el GaAs presentados en esta Memoria aportan informacion acerca de la naturaleza de defectos (dislocaciones y defectos puntuales) en obleas de GaAs semiconductor y GaAs semiaislante. El empleo de la catodluminiscencia (CL) y la microscopia electrocaustica de barrido (MEA...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Bianchi Méndez, Martín
Corporate Author: e-libro, Corp
Format: Libros Digitales
Language:Spanish
Published: Madrid : Universidad Complutense de Madrid, 1991.
Subjects:
Online Access:https://elibro.net/ereader/elibrounam/103246