Caracterización elipsometrica de materiales dielectricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra optica para el sector aeroespacial /

Bibliographic Details
Main Author: Alvarez Herrero, Alberto
Corporate Author: e-libro, Corp
Other Authors: Guerrero Padron, Hector (Director), Levy Cohen, David (Director)
Format: Libros Digitales
Language:Spanish
Published: Madrid : Universidad Complutense de Madrid, 2002.
Subjects:
Online Access:https://elibro.net/ereader/elibrounam/103394