Caracterización elipsometrica de materiales dielectricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra optica para el sector aeroespacial /

Bibliographic Details
Main Author: Alvarez Herrero, Alberto
Corporate Author: e-libro, Corp
Other Authors: Guerrero Padron, Hector (Director), Levy Cohen, David (Director)
Format: Libros Digitales
Language:Spanish
Published: Madrid : Universidad Complutense de Madrid, 2002.
Subjects:
Online Access:https://elibro.net/ereader/elibrounam/103394

MARC

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260 |a Madrid :  |b Universidad Complutense de Madrid,  |c 2002.  
300 |a 3-306 p.  
533 |a Recurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro. 
650 0 |a Detectores.  
650 0 |a Astronautics in geographical research.  
650 0 |a Remote sensing.  
650 0 |a Sensores. 
650 0 |a Fibra óptica. 
655 4 |a Libros electrónicos. 
700 1 |a Guerrero Padron, Hector.  |4 drt 
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