Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos

Fil: Olsson, Jorge Alberto. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería; Argentina.

Bibliographic Details
Main Authors:	Olsson, Jorge Alberto, Trochez, Oscar Dionisio, López, Jorge Luis, Santiago, Lea Vanessa, Anocibar, Héctor Rolando, Kurtz, Víctor Hugo
Format:	info:eu-repo/semantics/article
Language:	Spanish
Published:	Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería. Secretaría de Ciencia y Técnica 2019
Subjects:	Estrés en capacitores Fallas por descargas electrostáticas Fuentes conmutadas Fuentes switching Vida útil del capacitor Stress in capacitors Electrostatic discharge failures Switched sources Switching fonts Capacitor service life
Online Access:	https://hdl.handle.net/20.500.12219/3220

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