Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos
Fil: Olsson, Jorge Alberto. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería; Argentina.
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Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería. Secretaría de Ciencia y Técnica
2019
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| author | Olsson, Jorge Alberto Trochez, Oscar Dionisio López, Jorge Luis Santiago, Lea Vanessa Anocibar, Héctor Rolando Kurtz, Víctor Hugo |
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| spelling | ir-20.500.12219-32202024-03-25T12:06:22Z Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos Olsson, Jorge Alberto Trochez, Oscar Dionisio López, Jorge Luis Santiago, Lea Vanessa Anocibar, Héctor Rolando Kurtz, Víctor Hugo Estrés en capacitores Fallas por descargas electrostáticas Fuentes conmutadas Fuentes switching Vida útil del capacitor Stress in capacitors Electrostatic discharge failures Switched sources Switching fonts Capacitor service life Fil: Olsson, Jorge Alberto. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería; Argentina. Fil: Olsson, Jorge Alberto. Universidad Nacional de Misiones. Instituto de Materiales de Misiones. Grupo de Investigación y Desarrollo en Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Olsson, Jorge Alberto. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Materiales de Misiones. Grupo de Investigación y Desarrollo en Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Trochez, Oscar Dionisio. Universidad Nacional de Itapúa. Facultad de Ingeniería; Paraguay. Fil: López, Jorge Luis. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería; Argentina. Fil: Santiago, Lea Vanessa. Universidad Nacional de Misiones. Instituto de Materiales de Misiones. Grupo de Investigación y Desarrollo en Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Santiago, Lea Vanessa. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Materiales de Misiones. Grupo de Investigación y Desarrollo en Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Anocibar, Héctor Rolando. Universidad Nacional de Misiones. Instituto de Materiales de Misiones. Grupo de Investigación y Desarrollo en Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Anocibar, Héctor Rolando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Materiales de Misiones. Grupo de Investigación y Desarrollo en Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Kurtz, Víctor Hugo. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería; Argentina. Fil: Kurtz, Víctor Hugo. Universidad Nacional de Misiones. Instituto de Materiales de Misiones. Grupo de Investigación y Desarrollo en Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Kurtz, Víctor Hugo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Materiales de Misiones. Grupo de Investigación y Desarrollo en Ingeniería Electrónica; Argentina. Fil: Santiago, Lea Vanessa. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería; Argentina. Fil: Anocibar, Héctor Rolando. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería; Argentina. Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores utilizados como filtros. Los datos fueron obtenidos a partir de un seguimiento de servicios de mantenimientos electrónicos predictivo, preventivo y de reparación por fuera de servicio, esto fue comparado con la información de las hojas de datos de los fabricantes de capacitores, relacionándolos con sus condiciones de servicios por medio de simulación. La información obtenida permitió establecer la vida útil de los capacitores en las fuentes conmutadas, de a cuerdo a sus condiciones de servicio y a la exigencia a las que son sometidas. Se concluyó que la determinación de la vida útil del capacitor frente al estrés permite aportar datos para un adecuado proceso de fabricación, y utilización de productos, una correcta elección de los mismos de acuerdo a su destino y también facilita los datos necesarios para la implementación de adecuados protocolos de mantenimiento predictivo y correctivo en equipos electrónicos. This work framed in an accredited research project, the objective was to determine the main causes of faults in switching sources. In 83% of the cases analyzed, the empirical results indicated that the failures were due to the stress that the capacitors used as filters. The data was obtained from a follow-up of electronic maintenance services, both predictive, preventive and repair for out of service, this was compared with the information in the data sheets of the capacitor manufacturers, relating them to their service conditions by means of simulation. The information obtained allowed to establish the useful life of the capacitors in the switched sources, according to their service conditions and the requirement to which they are subjected. It was concluded that the determination of the useful life of the capacitor in the face of stress, allows to provide data for an adequate process of manufacturing and using products, a correct choice of them according to their destination and also provides the necessary data for the implementation of adequate predictive and corrective maintenance protocols in electronic equipment. 2019-06-21 info:eu-repo/semantics/article info:ar-repo/semantics/artículo info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136 https://hdl.handle.net/20.500.12219/3220 spa info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/https://doi.org/10.36995/j.masingenio.2019.01.01.004 info:eu-repo/semantics/openAccess application/pdf application/pdf Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería. Secretaría de Ciencia y Técnica Revista + Ingenio (Misiones), 6-2019; 1(1): pp. 46-60 https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/index |
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Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos