Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos

Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos

Fil: Olsson, Jorge Alberto. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería; Argentina.

Bibliographic Details
Main Authors: Olsson, Jorge Alberto, Trochez, Oscar Dionisio, López, Jorge Luis, Santiago, Lea Vanessa, Anocibar, Héctor Rolando, Kurtz, Víctor Hugo
Format: info:eu-repo/semantics/article
Language:Spanish
Published: Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería. Secretaría de Ciencia y Técnica 2019
Subjects:
Estrés en capacitores
Fallas por descargas electrostáticas
Fuentes conmutadas
Fuentes switching
Vida útil del capacitor
Stress in capacitors
Electrostatic discharge failures
Switched sources
Switching fonts
Capacitor service life
Online Access:https://hdl.handle.net/20.500.12219/3220

Similar Items

Similar Items