Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos

Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos

Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores...

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Detalhes bibliográficos
Principais autores: Anocibar, Hector R., Kurtz, Victor H., Olsson, Jorge A., Trochez, Oscar D., Lopez, Jorge L., Santiago, Lea V.
Formato: Online
Idioma:espanhol
Publicado em: +Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation. 2024
Assuntos:
Fallas por descargas Electrostáticas
Fuentes conmutadas
Fuentes switching
Vida útil del capacitor
Estrés del capacitor
Stress in capacitors
Electrostatic Discharge Failures
Switched sources
Switching fonts
Capacitor service life
Estres do capacitor
falhas na descarga eletrostática
fontes comutadas
fontes switching
vida útil do capacitor
Acesso em linha:https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136

Internet

https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136

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