Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos

Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores...

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Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Anocibar, Hector R., Kurtz, Victor H., Olsson, Jorge A., Trochez, Oscar D., Lopez, Jorge L., Santiago, Lea V.
Định dạng: Online
Ngôn ngữ:Tiếng Tây Ban Nha
Được phát hành: +Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation. 2024
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136
Miêu tả
Tóm tắt:Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores utilizados como filtros. Los datos fueron obtenidos a partir de un seguimiento de servicios de mantenimientos electrónicos predictivo, preventivo y de reparación por fuera de servicio, esto fue comparado con la información de las hojas de datos de los fabricantes de capacitores, relacionándolos con sus condiciones de servicios por medio de simulación. La información obtenida permitió establecer la vida útil de los capacitores en las fuentes conmutadas, de a cuerdo a sus condiciones de servicio y a la exigencia a las que son sometidas. Se concluyó que la determinación de la vida útil del capacitor frente al estrés permite aportar datos para un adecuado proceso de fabricación, y utilización de productos, una correcta elección de los mismos de acuerdo a su destino y también facilita los datos necesarios para la implementación de adecuados protocolos de mantenimiento predictivo y correctivo en equipos electrónicos.