Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos
Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores...
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| Format: | Online |
| Language: | Spanish |
| Published: |
+Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation.
2024
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136 |
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|---|---|
| author | Anocibar, Hector R. Kurtz, Victor H. Olsson, Jorge A. Trochez, Oscar D. Lopez, Jorge L. Santiago, Lea V. |
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| author_sort | Anocibar, Hector R. |
| collection | Revista Mas Ingenio |
| description | Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores utilizados como filtros. Los datos fueron obtenidos a partir de un seguimiento de servicios de mantenimientos electrónicos predictivo, preventivo y de reparación por fuera de servicio, esto fue comparado con la información de las hojas de datos de los fabricantes de capacitores, relacionándolos con sus condiciones de servicios por medio de simulación. La información obtenida permitió establecer la vida útil de los capacitores en las fuentes conmutadas, de a cuerdo a sus condiciones de servicio y a la exigencia a las que son sometidas. Se concluyó que la determinación de la vida útil del capacitor frente al estrés permite aportar datos para un adecuado proceso de fabricación, y utilización de productos, una correcta elección de los mismos de acuerdo a su destino y también facilita los datos necesarios para la implementación de adecuados protocolos de mantenimiento predictivo y correctivo en equipos electrónicos. |
| format | Online |
| id | oai:ojs.pkp.sfu.ca:article-136 |
| institution | Facultad de Ingenieria |
| language | Spanish |
| publishDate | 2024 |
| publisher | +Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation. |
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| spelling | oai:ojs.pkp.sfu.ca:article-1362024-05-23T20:04:55Z Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos Estudio de Fallas en Fuentes de Alimentación Conmutadas Debido al Estrés de los Capacitores Electrolíticos Study of Faults in Switching Power Supplies Due to the Stress of Electrolytic Capacitors Anocibar, Hector R. Kurtz, Victor H. Olsson, Jorge A. Trochez, Oscar D. Lopez, Jorge L. Santiago, Lea V. Fallas por descargas Electrostáticas Fuentes conmutadas Fuentes switching Vida útil del capacitor Estrés del capacitor Stress in capacitors Electrostatic Discharge Failures Switched sources Switching fonts Capacitor service life Estres do capacitor falhas na descarga eletrostática fontes comutadas fontes switching vida útil do capacitor Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores utilizados como filtros. Los datos fueron obtenidos a partir de un seguimiento de servicios de mantenimientos electrónicos predictivo, preventivo y de reparación por fuera de servicio, esto fue comparado con la información de las hojas de datos de los fabricantes de capacitores, relacionándolos con sus condiciones de servicios por medio de simulación. La información obtenida permitió establecer la vida útil de los capacitores en las fuentes conmutadas, de a cuerdo a sus condiciones de servicio y a la exigencia a las que son sometidas. Se concluyó que la determinación de la vida útil del capacitor frente al estrés permite aportar datos para un adecuado proceso de fabricación, y utilización de productos, una correcta elección de los mismos de acuerdo a su destino y también facilita los datos necesarios para la implementación de adecuados protocolos de mantenimiento predictivo y correctivo en equipos electrónicos. This work framed in an accredited research project, the objective was to determine the main causes of faults in switching sources. In 83% of the cases analyzed, the empirical results indicated that the failures were due to the stress that the capacitors used as filters. The data was obtained from a follow-up of electronic maintenance services, both predictive, preventive and repair for out of service, this was compared with the information in the data sheets of the capacitor manufacturers, relating them to their service conditions by means of simulation. The information obtained allowed to establish the useful life of the capacitors in the switched sources, according to their service conditions and the requirement to which they are subjected. It was concluded that the determination of the useful life of the capacitor in the face of stress, allows providing data for an adequate process of manufacturing and using products, a correct choice of them according to their destination and also provides the necessary data for the implementation of adequate predictive and corrective maintenance protocols in electronic equipment. Este trabalho, enquadrado em um projeto de pesquisa credenciado, teve como objetivo determinar as principais causas de falhas em fontes chaveadas ou comutadas. Em 83% dos casos analisados, os resultados empíricos indicaram que as falhas foram devidas ao estresse que os capacitores utilizados como filtros suportam. Os dados foram obtidos a partir de um acompanhamento de serviços preditivos, preventivos e de reparo para reparos fora de serviço, isso foi comparado com as informações das folhas de dados dos fabricantes de capacitores, relacionando-os às suas condições de serviço através de de simulação. As informações obtidas permitiram estabelecer a vida útil dos capacitores nas fontes comutadas, de acordo com suas condições de serviço e com as exigências a que estão submetidas. Concluiu-se que a determinação da vida útil do capacitor ao estresse pode fornecer dados para o processo de fabricação adequada, e uso de produtos, a escolha correta deles de acordo com seu destino e também fornece os dados necessários para a implementação de protocolos adequados de manutenção preditiva e corretiva em equipamentos eletrônicos. +Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation. +Ingenio - Revista de Ciência, Tecnologia e Inovação. +INGENIO - Revista de Ciencia Tecnología e Innovación 2024-05-23 info:eu-repo/semantics/article info:eu-repo/semantics/publishedVersion Artículo Científico- Evaluacion por Pares- Doble Ciego Scientific article evaluated by peers Artigo científico avaliado pelos pares application/pdf text/html https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136 10.36995/j.masingenio.2019.01.01.004 +Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation.; Vol. 1 No. 1: Journal of Science Technology and Innovation; 46 - 60 +Ingenio - Revista de Ciência, Tecnologia e Inovação.; v. 1 n. 1: Revista de Ciência, Tecnologia e Inovação; 46 - 60 +INGENIO - Revista de Ciencia Tecnología e Innovación; Vol. 1 Núm. 1: Revista de Ciencia Tecnología e Innovación; 46 - 60 2618-5520 2683-7021 spa https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136/896 https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136/897 Derechos de autor 2020 +Ingenio - Revista de Ciencia Tecnología e Innovación https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ |
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