Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos
Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores...
Prif Awduron: | Anocibar, Hector R., Kurtz, Victor H., Olsson, Jorge A., Trochez, Oscar D., Lopez, Jorge L., Santiago, Lea V. |
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Fformat: | Online |
Iaith: | Sbaeneg |
Cyhoeddwyd: |
+Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation.
2024
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Pynciau: | |
Mynediad Ar-lein: | https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136 |
Eitemau Tebyg
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Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos
gan: Olsson, Jorge Alberto, et al.
Cyhoeddwyd: (2019) -
El capacitor como componente electrónico
gan: Kurtz, Victor Hugo
Cyhoeddwyd: (2020) -
Fray Pedro Font diario íntimo y diario de Fray Tomas Eixarch /
Cyhoeddwyd: (2000) -
Conmutación diseño digital /
gan: Zurek Varela, Eduardo Enrique
Cyhoeddwyd: (2018) -
Diseño de circuitos electrónicos de conmutación
gan: Ruiz Meza, Raúl
Cyhoeddwyd: (1995)