Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos
Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores...
Үндсэн зохиолчид: | Anocibar, Hector R., Kurtz, Victor H., Olsson, Jorge A., Trochez, Oscar D., Lopez, Jorge L., Santiago, Lea V. |
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Формат: | Online |
Хэл сонгох: | испани |
Хэвлэсэн: |
+Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation.
2024
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Нөхцлүүд: | |
Онлайн хандалт: | https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136 |
Ижил төстэй зүйлс
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Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos
-н: Olsson, Jorge Alberto, зэрэг
Хэвлэсэн: (2019) -
El capacitor como componente electrónico
-н: Kurtz, Victor Hugo
Хэвлэсэн: (2020) -
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Хэвлэсэн: (2000) -
Conmutación diseño digital /
-н: Zurek Varela, Eduardo Enrique
Хэвлэсэн: (2018) -
Diseño de circuitos electrónicos de conmutación
-н: Ruiz Meza, Raúl
Хэвлэсэн: (1995)