Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos

Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores...

詳細記述

書誌詳細
主要な著者: Anocibar, Hector R., Kurtz, Victor H., Olsson, Jorge A., Trochez, Oscar D., Lopez, Jorge L., Santiago, Lea V.
フォーマット: Online
言語:スペイン語
出版事項: +Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation. 2024
主題:
オンライン・アクセス:https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136

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