Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos
Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores...
Những tác giả chính: | Anocibar, Hector R., Kurtz, Victor H., Olsson, Jorge A., Trochez, Oscar D., Lopez, Jorge L., Santiago, Lea V. |
---|---|
Định dạng: | Online |
Ngôn ngữ: | Tiếng Tây Ban Nha |
Được phát hành: |
+Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation.
2024
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136 |
Những quyển sách tương tự
-
Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos
Bằng: Olsson, Jorge Alberto, et al.
Được phát hành: (2019) -
El capacitor como componente electrónico
Bằng: Kurtz, Victor Hugo
Được phát hành: (2020) -
Fray Pedro Font diario íntimo y diario de Fray Tomas Eixarch /
Được phát hành: (2000) -
Conmutación diseño digital /
Bằng: Zurek Varela, Eduardo Enrique
Được phát hành: (2018) -
Diseño de circuitos electrónicos de conmutación
Bằng: Ruiz Meza, Raúl
Được phát hành: (1995)