Estudo de falhas em fontes de alimentação comutadas devido ao estresse dos capacitores eletrolíticos
Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos indicaron que las fallas se debieron al estrés que soportan los capacitores...
| 主要な著者: | , , , , , |
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| フォーマット: | Online |
| 言語: | スペイン語 |
| 出版事項: |
+Ingenio - Journal of Science Technology and Innovation.
2024
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| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | https://revistas.fio.unam.edu.ar/index.php/masingenio/article/view/136 |